0769-830013300769-83001330
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HID鎮(zhèn)流器異常狀態(tài)試驗電阻柜是按照標(biāo)準(zhǔn)要求而設(shè)計即滿足IEC60598-1：2008和GB 7000.1-2007版標(biāo)準(zhǔn)附錄C的圖C.3的HID整流效應(yīng)試驗方法；模擬HID鎮(zhèn)流器在半波電流作用下安全性良好與否。
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